1、什么是石英晶體的老化？
石英晶體的老化是指的頻率隨著時間的變化而變化，稱為老化。
2、石英晶體的老化的機理？
老化的機理是應力馳豫和質量吸附。具體可分為氧化、還原、疲勞、磨損、腐蝕、擴散、應力、滲透、吸附、釋放及超強度（過載）等。
石英晶體元件的頻率隨時間的變化就有如下三種：
圖中，A（t）曲線是由于應力馳豫引起的；B（t）曲線是由于質量吸附引起的；A（t）+B（t）曲線是兩者兼有。
年老化率的試驗與考核辦法
（1）美軍標MIL-C-3098F“石英晶體元件總規范”中規定在+85℃下保持30天，相當于在+25℃下壹年，其頻率變化小于5ppm.
（2）美軍標MIL-C-3098G“石英晶體元件總規范”中規定進行加速試驗，方法在+105℃下保持168小時，也相當于在＋25℃下壹年，其頻率變化小于5ppm.
上述兩種加速試驗都是在當時的條件下，經過試驗確定的。隨著原材料特性的提高和工藝水平的提高，對老化特性的考核辦法又做了修正。
（3）美軍標MIL-PRF-3098H“石英晶體元件總規范”中規定可以在＋125℃條件下保持72小時，其前后的頻率變化應小于5ppm。這個條件也相當于＋25℃下壹年。
做加速試驗是有條件的，即產品的失效模式不增加，失效機理不改變的情況下進行。
做老化試驗時，老化溫度誤差為±3℃，測試系統的誤差為±5ppm.在各次測量的環境溫度的誤差在±0.5℃情況下，當用晶體阻抗計進行測量時，所有晶體元件（包括設計工作在并聯諧振狀態的元件）都應在串聯諧振狀態下進行測量（即測量諧振頻率fr）。當使用其他振蕩器時，晶體元件可以工作在比串聯諧振頻率更高的頻率上。
石英晶體元件年老化大的原因
1、老化溫度
在不增加失效模式、不改變失效機理的必要條件下，選取比*高長期工作溫度低10℃的溫度，就目前石英晶體元件來說，為＋125℃為好。
2、石英晶體的老化時間
在規定的工藝條件下，抽取基頻較高且量較大的產品如25MHz的晶體元件共100只，依次編號，在室溫+25℃ ±2℃下存放1小時，隨后在上述（3）要求的測試系統上，測量其諧振頻率與諧振電阻，并逐個記錄其結果。將產品放入老化烘箱中，從室溫逐步升至+125℃±3℃，保持12小時，后取出產品，在室溫停放1.5~2小時，使其溫度達到+25℃±2℃，與**次測量時的室溫相差±0.5℃內，再依次在同一測試系統上，測量其諧振頻率與諧振電阻，并逐個記錄其結果。并再次送入+125℃ ±3℃，保持12小時，這樣連續試驗至累計老化72小時后，做*后一次測量，并記錄。按號畫出諧振頻率的老化曲線。在使用這些曲線時，去除異常曲線，一般不超過5%。
為了驗證石英晶體的老化溫度與老化時間的確定是否合理，可安排一批產品按此確定的老化溫度和老化時間進行老化。隨后再做+125℃±3℃、72小時的年老化率試驗進行驗證。
但要注意，如果所采用的石英片的加工余量，特別是腐蝕系數不合理，或成品制造過程工藝有較大變化時，則要重新試驗確定。